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粒度分析仪

	BI-90Plus 纳米/亚微米激光粒度分… 90Plus粒度仪基于动态光散射原理，是一种快速、便捷的亚微米、纳米粒度分析测试手段。
	BI-XDC（BI-DCP）圆盘式离心、沉… BI-XDC设计精华与指标：重力沉降与离心沉降两种模式具有较宽的测量范围：……
	BI-DCP 原盘式离心、沉降粒度仪 BI-DCP是数字式控制的高分辨率，高准确率的颗粒粒度分析仪。它采用简单的离心/沉降原理，结合复杂完善的硬件设计，集中体现了90年代离心/沉降原理粒度测试仪器的全部技术精华。
	FOQELS高浓度激光粒度分析仪布鲁克海文公司最先将光导纤维引入光散射研究测试中，设计研制出适于高浓度分散体系粒度测量的光散射分析仪。
	BI-200SM 广角激光光散射仪 BI-200SM是一种研究型的、精密的广角光散射系统。采用BI-9001数字相关器，通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况。通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm

zeta电位仪

	BI-ZetaPALS Zeta电位分析仪适用于溶剂 &nbs……
	ZetaPlus Zeta电位及粒度分析仪 ZetaPlus是简单，方便而准确的电泳测量仪器，它革新之处是从根本上消除了其它Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而轻松。

光散射系统

	BI-DNDC示差折射仪仪器特点 留有用户编程扩展借口，提高仪器的适应性与灵活性  面板与计算机控制相结合 完善的PC通信程序=……
	BI-MwA绝对分子量测定/在线反应监… 基本原理：静态光散射理论直接测量结果：  实时/平均绝对重均分子量、均方根回旋半径和第二维里系数；在线实时监测聚合反应过程……
	BI-200SM 广角激光光散射仪 BI-200SM是一种研究型的、精密的广角光散射系统。采用BI-9001数字相关器，通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况。通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm

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